英伟达评估PTFE用于Rubin Ultra交换板:混合方案降低制造难度

资讯 36氪 全文 3561 字 · 约 9 分钟读完 分类英伟达PCB

AI服务器的军备竞赛,已经卷到了PCB材料上。

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AI服务器的军备竞赛,如今已经打到了PCB材料这一层。

英伟达正在评估把PTFE(聚四氟乙烯)用在下一代AI服务器的高速PCB上,可能的落点是Rubin Ultra的NVSwitch交换板,据报道。PTFE这名字听着生僻,换个说法就熟悉了:特氟龙,不粘锅涂层用的就是它。英伟达看中的当然不是不粘,而是它在传输高频高速信号时损耗低。

Rubin Ultra的材料路线最近又有了新变化。SemiAnalysis在8月20日发布《PTFE Pushing Copper Further》,文中称英伟达仍打算在NVSwitch板上用PTFE,但方案已不是此前市场上炒得很热的"全面取代玻纤布",而是PTFE Core + M9 Prepreg的混合架构。

从全面替代退到混合,说明难点不只在材料性能。信号损耗要降下来,高多层PCB还得做得出来、量得起来,这才是这条路真正要过的坎。

为什么要用特氟龙?

GPU集群规模一路扩张,卡与卡之间要搬运的数据量随之暴涨,NVLink这类高速互连的速率也水涨船高。算力再强,只要数据在GPU、交换芯片和其他硬件之间传得不稳,整机效率照样提不起来。速率一旦来到单通道200Gbps,PCB走线上的信号损耗就再也不能视而不见了。

频率到底有多高?200Gbps通道一般用PAM4调制,奈奎斯特频率在50GHz上下。信号频率越高,PCB上的损耗就越大,板材的选择也就越关键。

PCB上的损耗大致分两块。其一是导体损耗:频率一高,电流就往铜线表层挤,也就是趋肤效应,50GHz时趋肤深度只剩零点几微米,铜箔表面的粗糙程度因此直接左右损耗大小,低粗糙度铜箔(HVLP)这几年被看重,原因就在这里。其二是介质损耗:包裹铜线的绝缘介质会吞掉一部分电磁能量,频率越高吞得越多。AI服务器的PCB走线越铺越复杂,层数越堆越多,信号需要经过的路径也越拉越长,板材的电气性能自然成了设计阶段躲不开的一个变量。

高速覆铜板这些年的演进方向很明确,就是往低介电常数、低介电损耗上靠:最早是传统环氧树脂,之后有PPO/PPE、Hydrocarbon,再到M8、M9这类高端材料,图的无非是让高速信号跑得更顺畅。PTFE之所以被盯上,在于它在低损耗方面的优势更为突出。

SemiAnalysis给的数据是,PTFE在10GHz下的介电常数Dk约2.1,介电损耗因子Df约0.0003,比一般的PPO/PPE和Hydrocarbon树脂都低。Dk反映材料对电场的响应程度,Df反映电磁能量在介质里损耗了多少。对高速PCB来说,Df越低,信号传出去之后剩下的能量就越多。需要补一句,这是10GHz下的数据,而实际工作频段高得多。PTFE的一个特点是Df随频率变化很小,到了几十GHz仍然保持在很低的水平,所以高频段的优势只会比10GHz下更明显。

玻纤布是PTFE另一个吸引人的地方。常规PCB基材由树脂加玻纤布构成,玻纤与树脂的介电常数并不相同,加上玻纤编织本身不均匀,信号走线是压在玻纤束上还是落在树脂区,局部Dk就会有差别,这便是玻纤效应。差分对的两根线若途经区域不一致,传播速度就会产生差异,进而带来时序偏差(skew),速率越高越棘手。PTFE核心层的玻纤含量很低,甚至完全不含玻纤,这类问题天然就轻得多。市场此前传出"全面替代玻纤布"的说法,动机并不只是低Df。

英伟达打算把PTFE用在NVSwitch板上,道理也在这里。Rubin Ultra要再扩大GPU互连规模,交换芯片得吞吐海量数据,交换板和中板要跑的速率也更高。Wccftech提到,部分高端PCB的层数已突破70层,即使用上顶级的M9,也未必扛得住未来的信号要求。现有材料体系不见得够用,那就只能去找介电损耗更低的材料。

难在制造

PTFE的电气性能倒不是最大的问题,麻烦在制造。

此前市面上流传Rubin Ultra可能拿PTFE把玻纤布全面替掉,这种说法漏掉了一个很实际的问题:材料电气性能再出色,也得闯过钻孔、压合、电镀这几道工序,最终做成一块靠得住的多层板。

PTFE化学性质非常稳定,表面能低,很难和别的材料粘在一起。这让它成了很好的低损耗介质,也让PCB厂头疼。

先看钻孔。PTFE质地偏软,又属于热塑性材料,钻头一摩擦、一发热,材料就容易软化,孔壁残留和毛边随之出现。如果材料里还掺了玻纤或其他填料,软硬不均,钻孔难度更大,孔壁质量和尺寸精度都会打折扣。高多层板还得做背钻,把通孔里多余的那截铜柱(stub)钻掉,省得它在高频下引起信号反射。背钻对深度和位置的精密度要求极高,钻孔质量一旦不稳,背钻也会被牵连。

孔钻完,金属化环节更棘手。传统PCB钻孔之后要除胶渣、化学沉铜、电镀,才能把各层可靠连通。可PTFE表面过于稳定,普通PCB常用的高锰酸盐除胶渣工艺基本奈何不了它,铜也很难直接附着上去。厂商只能借助特殊化学处理或等离子体处理来活化表面,把表面能提上去,铜层才附得牢一些。

接着是多层压合。PTFE熔点约在327°C,比环氧体系惯用的压合温度高出不少,加工条件相差悬殊,不同材料混在同一块板里,压合工艺就得重新摸索。PTFE与其他材料之间的粘接本身也不好办,一般要靠专门的粘结片来过渡。再者,PTFE偏软,受力会慢慢变形(冷流),压合时的压力和厚度控制难度也跟着上升。

热膨胀同样是个麻烦。纯PTFE的Z轴热膨胀系数很高,远高于铜的约17ppm/°C,掺入填料后能降下来一些,但差距仍在。高温压合以及反复热循环的过程中,层间尺寸变化会波及通孔可靠性,严重时还会让铜层疲劳开裂。板子越厚、层数越多,这一现象就越明显。

这些问题在普通高频PCB上就不好解决,放到几十层、要长期稳定运行的AI服务器交换板上,只会更难。

所以SemiAnalysis披露的混合方案看起来更合理。和之前传的全无玻纤方案不同,PTFE Core + M9 Prepreg只在部分核心层用PTFE,其他层还是M9级别的半固化片。PTFE负责压低关键高速信号路径上的介质损耗,M9提供机械支撑,加工工艺也相对成熟,整板的制造难度就降下来了。

高多层PCB并非每一层都扛一样的高速传输压力。关键层用PTFE压住损耗,其余层交给成熟度更高的M9,PTFE的电气优势用上了,整板全用PTFE的制造难题也绕开了。不过混合叠构也有代价:两种材料的热膨胀和收缩对不上,叠构设计一旦不对称,板子就容易翘曲,设计阶段得专门管住这一点。

这么看,Rubin Ultra材料路线这回的调整,与其说PTFE方案退了步,不如说思路变务实了:不再追求整板只用一种材料,而是照各层的功能和信号要求来配。

把铜互连再往前推一把

PTFE的分量不止于换一种PCB材料。SemiAnalysis给报告起名《PTFE Pushing Copper Further》,背后更大的产业逻辑已经点明:光互连在往前赶,行业却仍想让铜互连的使用范围尽量延长。

AI集群内部的互连正在起变化。GPU越堆越多、集群规模越来越大,传统铜连接在传输距离、信号损耗和带宽上越来越吃紧,光互连因此受到重视,CPO也被视为未来高速互连的重要方向。

但铜和光并不是谁替掉谁的关系。

英伟达公布的Vera Rubin Ultra NVL576系统,把8个机架整合成一个576 GPU的NVLink Domain,每个机架配72颗Rubin Ultra GPU,铜连接和直接光学连接在里面都有。未来的AI Scale-up网络看来不会只依赖一种传输技术,而是按距离、带宽和功耗需求,让铜和光各干各的活。

短距离连接上,铜在成本、功耗和制造成熟度上依旧占优。只要信号损耗还能往下压,铜的速率就还有往上走的空间。PTFE的价值正在这里:它不取代光互连,而是把PCB的介质性能做上去,让高速电信号在铜线路里走得更远、更稳。

PTFE、M9/M10、Low-Dk玻纤、Q布、低粗糙度铜箔,材料体系各不一样,奔的却是同一个目标:把高速信号传输中的损耗降下来。前面说的介质损耗和导体损耗,正好对应这两类材料:PTFE、M9/M10、Low-Dk玻纤和Q布压的是介质损耗,低粗糙度铜箔压的是导体损耗。

这也说明,高端PCB未来的材料之争,多半不会由某一种材料说了算,而是按板卡类型和各层信号要求搭配着上。高速交换板和中板可能多出一个PTFE的选项,其他计算板和通用高速PCB,成熟的低损耗材料照样有位置。

当然,PTFE能不能真进Rubin Ultra的量产设计,最终验证还没到。光电气性能好不够,钻孔、压合、金属化、热循环可靠性和整体良率,样样都得过关。

从GPU、HBM到交换芯片,再到眼下的PCB基材,AI基础设施的升级一路往更底层挖。英伟达盯上特氟龙,表面看是找一种新的低损耗材料,实际是在为下一代高速互连多争取一些空间。芯片之间传数据越来越关键,连承载数据的电路板也卷进了技术竞争。

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